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Chroma 完整半導體測試方案 迎接5G新時代

2017-8-3 閱讀(1532)

隨著5G、人工智慧(AI)與物聯網(IoT)應用蓬勃發展,半導體先進技術需求大幅增加,致茂提供從研發到量產所需的半導體測試設備,皆有完整測試設備提供客戶選擇。

半導體溶液奈米粒子監控系統SpuerSizer Series

半導體的先進制程技術持續飛速發展,在嚴苛的制程及品質要求下,從供應商的原物料、生產、儲存、分裝、運送、到客戶端的檢驗、暫存、前處理、使用端等每個環節都不容許出錯。SuperSizer Series可揪出液態化學藥品內的殺手奈米粒子,完全不受奈米氣泡的干擾并大幅改善了小粒子的偵測效率,可以精準地量測3奈米以上的粒子大小及數量分布。提供客戶及其供應商24/7對于小于20奈米的粒子進行即時監控,防范晶圓奈米缺陷形成于未然,增加先進制程良率。

高階數位及混合訊號的專家 3680 SoC測試系統

Chroma 3680全方位高精度/高效能SoC測試系統,可提供高達2048個I/O通道,且數位通道速率(data rate)最高可達1Gbps、最高512個并行測試的能力及512M Word測試資料記憶體深度,以提供最低的測試成本且滿足復雜SoC的測試應用需求。

HDAVO(High Density Audio Video Option) 高性能混和訊號解決方案,為Chroma 3680的選購模組,擁有可同時輸出的8個差動源模組(AWG)和同時接收的8個差動測量模組(DGT),且在每一個差動源模組(AWG)上能提供高達400Msps的取樣頻率和在每一個差動測量模組(DGT)上能提供高達250Msps的取樣頻率,具有高規格、低成本和多功能等優勢,適用于5G基頻、視訊、音訊、圖形、STB以及DTV等廣泛的混合訊號測試應用。搭配于CRISPro軟體套件,讓使用者可以用圖形化介面(GUI)或程式語言做測試程式的開發,加上支援可同時測試(Concurrent Testing)的功能,以降低測試程式的時間,加快產品的量產速度。

完整軟體與硬體的PXIe架構的測試平臺

隨著半導體技術的進步,半導體測試系統需要將各種功能集成到一個更小裝置中,PXI/PXIe架構在半導體測試無論在應用的多變和彈性上皆具優勢。Chroma 最新推出33011,33020 與33021 三張以PXIe架構下的半導體測試應用功能卡片,搭配33010 數位邏輯信號產生卡(LPC),提供了市場非常完整的PXIe架構之自動測試系統 (ATE)。 33011提供了半導體測試 Load Board所需要的控制資源,33020則提供了每張板卡8組的電源供應 (DPS);33021提供兩組高達48V的電源可供選擇。Chroma的PXIe-based 測試ATE系統,搭配Chroma CRAFT軟體組件,完整的提供從開發到量產與統計分析的半導體專業工具。

RF 射頻晶片測試解決方案 MP5806

Chroma半導體測試設備可完美結合ADIVIC MP5806,將測試設備擴充為俱備完整的射頻晶片測試方案,并已通過客戶量產驗證。MP5806可支援包含Bluetooth, Wi-Fi, NB-IoT、GPS/BeiDou等(IoT)通訊標準和Tuner & PA等應用,內含300K~6GHz全頻覆蓋之超高頻寬VSG/VSA模組,更可廣泛應用于未來各式無線通訊標準。

半導體先進封裝光學量測系統 7505 Series

半導體先進封裝關鍵尺寸(CD)的量測設備,隨著元件微縮,所需量測的關鍵尺寸(CD)也越來越小。Chroma推出適合下一世代關鍵尺寸量測的7505 Series半導體先進封裝光學量測系統,7505 Series以白光干涉量測技術為核心,進行非破壞性的光學尺寸量測,可進行待測物之關鍵尺寸(CD)、Overlay(OVL)及Thickness等量測需求,且垂直與水準軸向掃描范圍大,適合各種自動量測之應用,最大量測尺寸達12吋晶圓,待測物皆不需前處理即可進行非破壞且快速的表面形貌量測與分析,提供快速自動對焦演算法與大面積接圖功能,可使用腳本量測功能具備自動量測能力,同時可搭配EFEM (Equipment From End Module),進行待測物運送,此設備已通過SEMI S2認證,適用于各大半導體廠中之研發單位、FAB廠、生產與品管單位使用。

本次展會中展出同為使用7505 Series白光干涉技術的核心的設備7503三維光學輪廓儀,展示出強大的基本量測能力,利用掃描白光干涉技術提供多種表面參數量測功能,如斷差高度、夾角、面積、體積、粗度、起伏、薄膜厚度及平整度以滿足業界與研究單位之需求。

功率半導體元件 高壓應用安全檢測 19501-K

功率半導體元件于新能源的應用領域如電動車與儲能等需較高電壓切換,以電動車馬達驅動器工作原理檢視,在正常工作時回路上會產生高于電池電壓的突波電壓。因此功率半導體元件應用在此環境,必須考慮突波電壓造成的持續性局部放電之品質議題確保長期工作可靠性。Chroma 19501-K局部放電測試器能為您把關檢測功率半導體元件在高電壓工作下是否有連續性局部放電(PD in pC)發生,確保長期工作之品質與可靠性。

2019 SEMICON Taiwan (9月18-20日),致茂電子將于臺北南港展覽館一館1F (攤位號: K3080)展出嶄新的半導體測試解決方案,我們誠摯的邀請您一同體驗量測新趨勢,期待在此年度盛會中與您見面。

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